Please use this identifier to cite or link to this item:
https://er.nau.edu.ua/handle/NAU/25044Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Куц, Ю. В. | - |
| dc.contributor.author | Олійник, Ю.А. | - |
| dc.contributor.author | Монченко, О.В. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-02-28T09:40:56Z | - |
| dc.date.available | 2017-02-28T09:40:56Z | - |
| dc.date.issued | 2015-08-10 | - |
| dc.identifier.uri | http://er.nau.edu.ua/handle/NAU/25044 | - |
| dc.description.abstract | Корисна модель належить до луна-імпульсної ультразвукової товщинометрії і призначена для прецизійного вимірювання товщини виробів. | uk_UA |
| dc.language.iso | uk | uk_UA |
| dc.title | УЛЬТРАЗВУКОВИЙ ДВОШКАЛЬНИЙ СПОСІБ ВИМІРЮВАННЯ ТОВЩИНИ ВИРОБІВ | uk_UA |
| dc.type | Other | uk_UA |
| Appears in Collections: | Патенти кафедри інформаційно-вимірювальних систем | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Патент.pdf | Патент на корисну модель | 271.86 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.