Математичні моделі оцінки надійності радіоелектронних систем

Abstract

Робота присвячена розвитку математичних моделей оцінки надійності радіоелектронних систем (РС) з активними фазованими антенними решітками (АФАР). У роботі розроблений комплекс математичних моделей апроксимації кривих інтенсивностей відмов електрорадіовиробів імовірнісними розподілами, що описують раптові і поступові відмови. Досліджено вплив коефіцієнта надмірності РС з розподіленою структурою при різних імовірнісних розподілах відмов вузлів, каналів і модулів. Побудовані та досліджені моделі оцінки надійності РС з АФАР при раптових і поступових відмовах каналів і модулів. Аналіз впливу поступових відмов модулів антенних решіток під час оцінки надійності РС дозволяє підвищити оцінку середнього наробітку до відмови АФАР від 30% до 80%. Розроблено та досліджено математичну модель оцінки надійності АФАР РС в залежності від температури активної зони кристалів GaN (нітриду галію) мікромодулів, що дозволяє вибрати оптимальну структуру системи рідинного охолодження.

The work is devoted to the development of mathematical models for assessing the reliability of radio electronic systems (RS) with active phased antenna arrays (APAA). The work developed a complex of mathematical models for approximating the curves of failure rates of electrical radio products by probability distributions describing sudden and gradual failures. The influence of the redundancy factor of a distributed structure with different probabilistic distributions of failures of nodes, channels and modules is investigated. Models for assessing the reliability of RS with APAA in case of sudden and gradual failures of channels and modules have been built and investigated. Taking into account the effect of gradual failures of antenna array modules in assessing the reliability of the RS allows to increase the estimate of the average operating time before the APAA failure from 30 % to 80 %. A mathematical model has been developed and investigated for assessing the reliability of the APAA RS depending on the temperature of the core of GaN (gallium nitride) crystals of micro modules, which makes it possible to choose the optimal structure of the liquid cooling system.