Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://er.nau.edu.ua/handle/NAU/25888Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Редько, О.О. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-04-02T15:39:15Z | - |
| dc.date.available | 2017-04-02T15:39:15Z | - |
| dc.date.issued | 2014-10-23 | - |
| dc.identifier.uri | http://er.nau.edu.ua/handle/NAU/25888 | - |
| dc.description.abstract | В завдання метрології та економіки підприємств завжди постає питання щодо зменшення вартості засобів вимірювання не витрачаючи точність визначення метрологічних характеристик об'єктів вимірювання. Для вирішення даної проблеми при атестації решет та сит на відповідність кількісного значення геометричних параметрів нормативній документації, пропонується використати доступний цифровий мікроскоп на основі ПЗС-матриці. В роботі описані основні джерела похибок оптоелектронної системи та шляхи їх компенсації. | uk_UA |
| dc.language.iso | uk | uk_UA |
| dc.publisher | Чернігів: "Місто" | uk_UA |
| dc.relation.ispartofseries | Фізико-технологічні проблеми радіотехнічних пристроїв, засобів телекомунікацій, нано- та мікроелектроніки: Матеріали IV-ої міжнародної науково-практичної конференції;С. 131 | - |
| dc.subject | решета | uk_UA |
| dc.subject | сита | uk_UA |
| dc.subject | оптоелектронна вимірювальна система | uk_UA |
| dc.subject | градуювальна характеристика | uk_UA |
| dc.title | Застосування цифрового мікроскопу на основі ПЗС-матриці в якості засобу вимірювальної техніки при контролі геометричних параметрів | uk_UA |
| dc.type | Thesis | uk_UA |
| Располагается в коллекциях: | Матеріали наукових конференцій кафедри інформаційно-вимірювальних систем | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Чернівці-2014 Редько.pdf | Тези доповіді | 5.46 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.