Please use this identifier to cite or link to this item:
Title: Built-in self test for register file memory compiler
Other Titles: Вбудоване самотестування для компілятора пам'яті регістрових файлів
Authors: Grudanov, Oleksandr
Груданов, Олександр
Keywords: BIST
Register File
memory compiler
регістровий файл
компілятор пам'яті
Issue Date: Apr-2024
Publisher: National Aviation University
Citation: Grudanov O. Built-in self test for register file memory compiler // Flight. Modern problems of science: abstracts of the XXI International scientific-practical conference of applicants for higher education and young scientists. - National Aviation University. - Kyiv, 2024.
Abstract: In modern telecommunication systems there are a lot of SoCs containing microprocessors, for which a Register File memory (RF) serving as an internal cache is one of the key components affecting the overall system performance [1]. The RF memory compiler is a special software consisting of the design library, scripts and other files, which contain the technology data necessary to generate RF instances [2]. Along with such requirements as area, speed and power consumption, there is a task for every single RF to pass functional testing as a standalone element of the chip. The Built-In Seft Test (BIST) is designed for on-chip testing purposes, as it is much easier to test an embedded RF/SRAM using a BIST than it is with an external high-cost equipment [3]. To allow for easy BIST integration, its data muxes were integrated into the memory circuitry so that the timing convergence is easier to achieve.
У сучасних телекомунікаційних системах існує велика кількість SoC, що містять мікропроцесори, для яких пам'ять регістрових файлів (РФ), що виконує роль внутрішнього кешу, є одним з ключових компонентів, що впливають на загальну продуктивність системи [1]. Компілятор пам'яті РФ - це спеціальне програмне забезпечення, що складається з бібліотеки проектування, скриптів та інших файлів, які містять технологічні дані, необхідні для генерації екземплярів РФ [2]. Поряд з такими вимогами, як площа, швидкодія та енергоспоживання, існує завдання для кожної окремої РЗП пройти функціональне тестування як окремого елемента мікросхеми. Вбудований сефт-тест (Built-In Seft Test, BIST) призначений для внутрішньосхемного тестування, оскільки набагато простіше протестувати вбудований RF/SRAM за допомогою BIST, ніж за допомогою зовнішнього дорогого обладнання [3]. Щоб полегшити інтеграцію BIST, його масиви даних були інтегровані в схему пам'яті, щоб легше було досягти збіжності в часі.
Description: 1. O. Grudanov. “Stability Parameters of Register File Bit Cell with Low Power Consumption Priority”, ISSN 1990-5548 Electronics and Control Systems, 3(77): 40-46, 2023. 2. Kamineni Sumanth, Gupta Shourya, Calhoun Benton H. "MemGen: An Open-Source Framework for Autonomous Generation of Memory Macros" ISSN 08865930 IEEE Custom Integrated Circuits Conference, CICC 2021, April 25-30, 2021 Code 169090. 3. Ghale Suraj B.,Ghale S.B."Design and Implementation of Memory BIST for Hybrid Cache Architecture" 6th International Conference on Communication and Electronics Systems, ICCES 2021, pages 26-31, 2021. 4. Cai Zhikuang, Wang Ying, Liu Shihuan, Lv Kai, "A novel BIST algorithm for low-voltage SRAM" IEEE International Test Conference in Asia, p.133-138, Sep 2019.
Appears in Collections:Політ. Електроніка

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Олександр Груданов.pdf408.9 kBAdobe PDFView/Open

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.