Built-in self test for register file memory compiler

Abstract

In modern telecommunication systems there are a lot of SoCs containing microprocessors, for which a Register File memory (RF) serving as an internal cache is one of the key components affecting the overall system performance [1]. The RF memory compiler is a special software consisting of the design library, scripts and other files, which contain the technology data necessary to generate RF instances [2]. Along with such requirements as area, speed and power consumption, there is a task for every single RF to pass functional testing as a standalone element of the chip. The Built-In Seft Test (BIST) is designed for on-chip testing purposes, as it is much easier to test an embedded RF/SRAM using a BIST than it is with an external high-cost equipment [3]. To allow for easy BIST integration, its data muxes were integrated into the memory circuitry so that the timing convergence is easier to achieve.

У сучасних телекомунікаційних системах існує велика кількість SoC, що містять мікропроцесори, для яких пам'ять регістрових файлів (РФ), що виконує роль внутрішнього кешу, є одним з ключових компонентів, що впливають на загальну продуктивність системи [1]. Компілятор пам'яті РФ - це спеціальне програмне забезпечення, що складається з бібліотеки проектування, скриптів та інших файлів, які містять технологічні дані, необхідні для генерації екземплярів РФ [2]. Поряд з такими вимогами, як площа, швидкодія та енергоспоживання, існує завдання для кожної окремої РЗП пройти функціональне тестування як окремого елемента мікросхеми. Вбудований сефт-тест (Built-In Seft Test, BIST) призначений для внутрішньосхемного тестування, оскільки набагато простіше протестувати вбудований RF/SRAM за допомогою BIST, ніж за допомогою зовнішнього дорогого обладнання [3]. Щоб полегшити інтеграцію BIST, його масиви даних були інтегровані в схему пам'яті, щоб легше було досягти збіжності в часі.